Толщиномер и анализатор покрытий FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

Анализатор покрытий FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD — это рентгенофлюоресцентный измерительный прибор, оснащённый крупным кремниевым дрейфовым детектором и мощной рентгеновской трубкой. Имеет максимальную гибкость возбуждения как для размера пятна измерения, так и для спектрального состава материала.

Прибор может оборудоваться различными фильтрами и диафрагмами в соответствии с условиями задач контроля. Детектор имеет окно площадью 50 мм² и апертуру Ø 3 мм, позволяющие анализировать малые области и покрытия небольшой толщины с высокой точностью и за короткое время.

Для создания идеальных условий возбуждения для каждого измерения прибор имеет электрически сменные апертуры и первичные фильтры. Благодаря высокоточному программированию и XY-регулировке опоры может использоваться для автоматизированных измерений образцов.

Анализатор XDV-SDD может применяться для исследования очень тонких покрытий, слоёв золота и палладия от 0,1 мкм, измерения функциональных покрытий в электронике и полупроводниковой промышленности. Подходит для анализа золота и его сплавов, а также сложных многослойных систем. Прибор может обнаруживать нежелательные вещества в электронных устройствах, упаковочных материалах и потребительских товарах в соответствии с требованиями RoHS, WEEE, CPSIA и других нормативных документов.

Особенности

• подходит для определения тонких покрытий, небольших структур, микроэлементов и сплавов;
• оснащён высокоточной программируемой XY-опорой и Z-осью с электрическим приводом;
• метод фундаментальных параметров Fischer исключает необходимость калибровки;
• соответствует стандартам DIN ISO 3497
  и ASTM B 568;

• интегрированный видеомикроскоп с масштабированием для точной регулировки точки измерения;
• представление данных на ПК, анализ и оценка измерений осуществляются с помощью программного обеспечения WinFTM;
• лазерная указка для облегчения позиционирования и выравнивания образцов.